W1光學3d表面輪廓儀器采用白光干涉技術，結合具有優異抗噪性能的3D重建算法，真實還原樣品的每一個細節，隨意翻轉縮放，都能輕松觀察、測量樣品的任意特征。中圖儀器提供1100單鏡頭手動版和1200多鏡頭自動版兩種機型，另可針對不同的客戶需求，在兩種型號間選取不同配置進行組合，讓儀器切合客戶需求，貼心省力。

參數

產品型號：SuperView W1系列

產品名稱：光學3D表面輪廓儀

影像系統：1024×1024

光學ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選）

干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）

XY平臺：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動、手動同時具備，均為光柵閉環反饋

Z軸行程：100mm，電動

Z向掃描范圍：10mm

Z向分辨率：0.1nm

可測樣品反射率：0.05%-100%

水平調整：±5°手動

粗糙度RMS重復性：0.005nm

臺階高測量：準確度0.3%，重復性0.08% 1σ

主要特點：非接觸式無損檢測，一鍵分析、測量速度快、效率高

生產企業：深圳市中圖儀器股份有限公司

注釋：更多詳細產品信息，請聯系我們獲取

W1光學3d表面輪廓儀器粗糙度、平面度、孔洞分析等3D測量功能全部囊括，距離、角度、直徑測量等2D輪廓分析功能覆蓋，有依據ISO|ASME|EUR|GBT四大國內外標準的300余種特征參數。重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合下，分辨率可達0.1nm，廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

薄膜粗糙度測量

磨損定量分析

塑料薄片微觀

應用

在3C領域，SuperView W1系列光學輪廓儀可以測量藍寶石屏、濾光片、表殼等表面粗糙度；

在LED行業，SuperView W1系列光學輪廓儀可以測量藍寶石、碳化硅襯底表面粗糙度；

在光纖通信行業，SuperView W1系列光學輪廓儀可以測量光纖端面缺陷和粗糙度；

在集成電路行業，SuperView W1系列光學輪廓儀可以測量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；

在EMES行業，SuperView W1系列光學輪廓儀可以測量臺階高度和表面粗糙度；

在軍事領域，SuperView W1系列光學輪廓儀可以測量藍寶石觀察窗口表面粗糙度......